19 septiembre 2010

Últimos avances de la fotónica para la producción fotovoltaica


La industria de fabricación de células fotovoltaicas requiere instrumentación de precisión en diferentes partes del proceso. Revisamos en este artículo algunos de los últimos avances de la fotónica en este campo.

Inspección por defectos cosméticos

Tordivel Solar ha lanzado una nueva generación de soluciones para la inspección de la contaminación óptica para las obleas mono – y policristalinas.

Wafer Surface Instrument realiza un control de calidad automático de la superficie de las obleas. Las obleas están caracterizadas por los siguientes efectos superficiales cosméticos: gran área de contaminación, pequeña área de contaminación, líneas y puntos, puntos oscuros, marcas de copas de succión y puntos brillantes.

El sistema usa iluminación en ángulo y la iluminación uniforme omni-direccional, junto con cámaras scan en dos líneas por lado y un PC para colectar imágenes. La iluminación retira cristales de la imagen, y los efectos de la superficie son visibles.

Herramienta de metrología para ensayos de film delgados

Nightingale – EOS ha lanzado su primer producto, una herramienta de metrología láser n-Gauge para la caracterización de las propiedades del material y espesor de los revestimientos en un amplio rango de dispositivos, tales como implantes médicos, piezas de micro-ingeniería, obleas de silicio, células solares, displays, o revestimientos ópticos. La herramienta utiliza la técnica de reflectometría del perfil del haz (BPR), que se ha usado con éxito en fabricación de semiconductores de alto volumen durante muchos años. n-Gauge hace que esta tecnología esté disponible en un factor de forma más pequeño, a menor coste, y con mayor capacidad que nunca antes.

Tecnología multi-bar para secado de superficies

ES Technology, ha introducido un nuevo módulo multi-bar, refrigerado por conducción, capaz de trabajar con una salida de 500 W en longitud de onda estándar. Utilizando nuevos conceptos de diseño el fabricante obtiene un perfil de intensidad homogeneizada en un 95 %. La geometría de puntos puede variar desde fuentes de línea, tales como 12 mm x 300 µm, a áreas, por ejemplo 52 x 2 mm2. También son posibles geometrías adaptadas a las necesidades del cliente.

Diseñado para aplicaciones de procesado de materiales tales como la soldadura de plásticos, estos módulos homogeneizados son ideales para soldar, re-cristalización o secado de superficies en aplicaciones de producción de células solares.

Herramientas perfectas para turing de células solares

La serie industrial UC de amplificadores de femto y picosegundos, de High Q Laser, tienen un diseño robusto y fiable. El picoRegen ofrece una potencia de 30 W con una duración del pulso de 12ps, mientras que femtonRegen ofrece 8 W con una duración del pulso de 350fs.

Son fuentes láser ideales para ser integradas en productos OEM, debido a su tamaño compacto con una huella de solamente 86 x 34 cm, su controlador todo en uno, y su capacidad para control remoto completo y lectura de señal.

Los pulsos femto – y picosegundo pueden dispararse vía señales TTL desde pulsos simples a tasas de repetición de 1 MHz proporcionando una energía constante desde el primer pulso.

La combinación de alta potencia y altas tasas de repetición hace que los amplificadores regenerativos todo en uno de pico y femtosegundos sean herramientas ideales para un amplio rango de aplicaciones en micro y nanoprocesado tales como las que requieren las células solares, la ablación de film delgado, taladrado de huecos, corte de precisión o ablación de tejidos.

La tecnología EMCCD mejora la exactitud

E2v y Photometrics han lanzado las tecnologías eXcelon back illuminated Charge Coupled Device (CCD) y elecron Multiplication CCD (EMCCD).

Los sensores eXcelon proporcionan capacidades de detección fotónicas en un amplio espectro, de 200nm a 1,100nm. Estas tecnologías son especialmente beneficiosas para aplicaciones que requieren sensibilidad realzada en la región azul cerca de infrarrojos.

Bibliografía: Photonics for photovoltaics production. Photovoltaics 2010

Palabras clave: Beam profile reflectometry (BPR)
Publicar un comentario en la entrada